Làm thế nào để kiểm tra diện tích bề mặt riêng của SiO2?

Cách kiểm tra diện tích bề mặt riêng củaSiO2?

Diện tích bề mặt riêng của silicon dioxide là một thông số rất quan trọng, đóng vai trò quan trọng trong việc kiểm soát sản xuất và cũng là thông số tiêu chuẩn để đo lường và đánh giá chất lượng của bột silicon, vì vậy việc kiểm tra diện tích bề mặt riêng là rất cần thiết.

Diện tích bề mặt riêng củabột siliclà diện tích bề mặt trên gam vật liệu rắn, m2/g; Tiêu chuẩn quốc gia về diện tích bề mặt riêng của silica là phương pháp đa điểm BET hấp phụ nitơ ở nhiệt độ thấp dựa trên lý thuyết BET (GB/T 19587-2004). Điểm mấu chốt để xác định diện tích bề mặt riêng bằng phương pháp đa điểm BET hấp phụ nitơ là: trong khoảng 5-30 phần trăm áp suất riêng phần nitơ, đo lượng nitơ bị hấp phụ bởi chất hấp phụ (bột cần đo) ở các mức khác nhau các điểm áp suất riêng phần của nitơ, vẽ đường đẳng nhiệt hấp phụ và tính toán lượng hấp phụ bão hòa của lớp đơn lớp tương ứng với lớp đơn lớp khi bề mặt chất hấp phụ được bao phủ bởi các phân tử nitơ thông qua công thức BET, để tính diện tích bề mặt riêng của chất hấp phụ.